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雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)fL和的測量提取噪聲電流譜測量法

羅濤,  戴逸松,  辛德勝

羅濤, 戴逸松, 辛德勝. 雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)fL和的測量提取噪聲電流譜測量法[J]. 電子與信息學報, 1993, 15(4): 421-424.
引用本文: 羅濤, 戴逸松, 辛德勝. 雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)fL和的測量提取噪聲電流譜測量法[J]. 電子與信息學報, 1993, 15(4): 421-424.
Luo Tao, Dai Yisong, Xin Desheng. MEASUREMENT OF PARAMETERS fL AND OF 1/f NOISE IN BJTBASED ON THE MEASURING METHOD OF NOISE CURRENT SPECTRA[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1993, 15(4): 421-424.
Citation: Luo Tao, Dai Yisong, Xin Desheng. MEASUREMENT OF PARAMETERS fL AND OF 1/f NOISE IN BJTBASED ON THE MEASURING METHOD OF NOISE CURRENT SPECTRA[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1993, 15(4): 421-424.

雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)fL和的測量提取噪聲電流譜測量法

MEASUREMENT OF PARAMETERS fL AND OF 1/f NOISE IN BJTBASED ON THE MEASURING METHOD OF NOISE CURRENT SPECTRA

  • 摘要: 晶體管低頻噪聲主要是1/f噪聲,其參數(shù)fL和的測出,不僅對低頻低噪聲設計,而且對于研究半導體噪聲機理以及應用它來分析半導體內(nèi)部缺陷或表面清潔處理情況都有著重要意義。本文給出了雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)的測量方法、系統(tǒng)及實例,獲得了已有噪聲測量系統(tǒng)所不能給出的參數(shù)。
    Abstract: The method and system for measuring parametros of fL and of 1/f noise in BJT are presented. Finally, the examples are given.
    • HTML全文
  • L. Loreck et al., IEEE Electron Device Lett., EDL-5(1984)1, 9.[2]C. D. Motchenbacken, F. C. Fitchen, Low-Noise Electronic Design, John Wiley Sons. Inc,[3]N. Y., (1973), Chapter 4.[4]M. Macucci et al., IEEE Trans. on IM, IM-40(1991)1, 7-12.[5]羅濤, 戴逸松,電子學報,18(1990)6,79-86.
  • 加載中
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出版歷程
  • 收稿日期:  1992-01-21
  • 修回日期:  1992-05-25
  • 刊出日期:  1993-07-19

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