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線性電路K故障診斷法的有效范圍

吳耀 童詩白

吳耀, 童詩白. 線性電路K故障診斷法的有效范圍[J]. 電子與信息學(xué)報(bào), 1989, 11(2): 113-120.
引用本文: 吳耀, 童詩白. 線性電路K故障診斷法的有效范圍[J]. 電子與信息學(xué)報(bào), 1989, 11(2): 113-120.
Wu Yao, Tong Shihai. THE EFFECTIVE RANGE OF K-FAULT DIAGNOSIS OF LINEAR CIRCUIT[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1989, 11(2): 113-120.
Citation: Wu Yao, Tong Shihai. THE EFFECTIVE RANGE OF K-FAULT DIAGNOSIS OF LINEAR CIRCUIT[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1989, 11(2): 113-120.

線性電路K故障診斷法的有效范圍

THE EFFECTIVE RANGE OF K-FAULT DIAGNOSIS OF LINEAR CIRCUIT

  • 摘要: 在使用K故障診斷法時(shí),為提高電路的可診斷性,可以采取諸如增加可及節(jié)點(diǎn),或改變激勵(lì)點(diǎn),增加激勵(lì)和測(cè)量次數(shù)等辦法。本文對(duì)這些措施的有效性,以及如何增加可及節(jié)點(diǎn)問題進(jìn)行了詳細(xì)的討論,特別著重對(duì)比較有效的多激勵(lì)法進(jìn)行研究,給出了用多激勵(lì)法進(jìn)行診斷時(shí),電路可K故障支路診斷的條件。
  • Zheng F. Huang, Cheng-Shang Lin, Ruey-Wen Liu, IEEE Trans. on CAS, CAS-30(1983), 257-265.[2]鄒銳,模擬電路K故障診斷,華中工學(xué)院學(xué)報(bào),1985年,第2期,第1-8頁.[3]蔣本璐,范麗娟,具有不可及節(jié)點(diǎn)的模擬電路的多故障診斷,1984年中國(guó)電子學(xué)會(huì)電路與系統(tǒng)第五屆年會(huì)論文集,西安,1985,第299-303頁.
  • 加載中
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  • 被引次數(shù): 0
出版歷程
  • 收稿日期:  1987-12-14
  • 修回日期:  1988-04-22
  • 刊出日期:  1989-03-19

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