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1993年  第15卷  第4期

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論文
高速集成電路中多導(dǎo)體漸變互連線傳輸特性的分析
王秉中
1993, 15(4): 337-342.
摘要:
本文首先給出高速集成電路中多導(dǎo)體均勻互連線傳輸特性的分析方法和計算公式。再將漸變互連線近似為線寬略有變化的多節(jié)均勻線級聯(lián),通過網(wǎng)絡(luò)理論,分析出漸變線的傳輸特性。計算結(jié)果與測量值吻合很好。
V形振子陣的時域輻射特性
王均宏
1993, 15(4): 343-350.
摘要:
本文利用直接時域法計算了由三單元V形振子組成的直線陣的時域輻射特性,得到了一些有用的結(jié)果,為時域天線的進(jìn)一步研究提供參考。
用譜域?qū)Э狗ㄓ嬎汨F氧體加載鰭線的傳輸特性
顧長青
1993, 15(4): 351-358.
摘要:
本文從Maxwell方程出發(fā),經(jīng)過Fourier變換和坐標(biāo)旋轉(zhuǎn),將鐵氧體中的非尋常波分解成TE和TM波,并給出它們的波導(dǎo)納。利用邊界條件,忽略TE和TM波間耦合的影響后,將鰭線用一等效網(wǎng)絡(luò)表示。本文方法與T.Itoh提出的譜域?qū)Э狗ū容^,在等效網(wǎng)絡(luò)中引入了理想變壓器元件。最后對鐵氧體加載單側(cè)鰭線的正反向傳播常數(shù)進(jìn)行了數(shù)值計算,其結(jié)果與有關(guān)文獻(xiàn)中數(shù)據(jù)吻合得很好。
任意形狀粗糙物體的激光后向散射
吳振森
1993, 15(4): 359-366.
摘要:
本文研究具有粗糙表面凸形物體的光頻后向散射。由幾何光學(xué)基爾霍夫近似,獲得相干后向散射截面和非相干后向散射截面理論計算公式。以粗糙球和粗糙橢球為例分析了物體幾何參數(shù),介電常數(shù)和粗糙表面統(tǒng)計參數(shù)對紅外激光后向散射截面的影響。
離子通道激光
劉濮鯤, 楊中海
1993, 15(4): 367-374.
摘要:
離子通道激光(ICL)是一種可工作在紫外和X射線區(qū)的新型自由電子激光。本文對低增益情況下ICL的輻射放大機(jī)制進(jìn)行了研究。利用Madey理論導(dǎo)出了ICL的增益公式;通過群聚參量Bi對ICL中電子的兩種不同的群聚機(jī)制進(jìn)行了討論;由諧振條件得出了ICL的輸出頻率,并與回旋自諧振脈塞(CARM)和常規(guī)自由電子激光(FEL)進(jìn)行了比較。
相控陣AEW雷達(dá)雜波自由度分析
廖桂生, 保錚, 張玉洪
1993, 15(4): 375-381.
摘要:
自適應(yīng)抑制機(jī)載預(yù)警(AEW)雷達(dá)雜波的問題近年來受到了廣泛關(guān)注。有效進(jìn)行自適應(yīng)處理的必要條件是系統(tǒng)可控自由度數(shù)大于雜波自由度數(shù)。本文詳細(xì)研究了相控陣AEW雷達(dá)的雜波自由度問題,得到了一些新結(jié)果。這些結(jié)果有助于設(shè)計自適應(yīng)系統(tǒng)。
核爆炸信號參數(shù)化方法及其應(yīng)用
馮地清, 繆常, 趙明, 王鋒
1993, 15(4): 382-387.
摘要:
本文提出了一種經(jīng)過改進(jìn)的瞬態(tài)信號參數(shù)化方法并討論了這種方法在核爆炸探測領(lǐng)城內(nèi)的應(yīng)用。重點闡述了信號建模及參數(shù)提取的計算方法,最后給出了本方法在核爆炸識別中的典型實例及計算機(jī)仿真結(jié)果。
容差電路的故障診斷最小容差估計算法
楊嘉偉, 楊士元, 陸強(qiáng), 童詩白
1993, 15(4): 388-395.
摘要:
本文從容差對k故障診斷法的影響機(jī)理出發(fā),提出了一種具有明確物理意義的容差電路故障診斷方法最小容差估計算法。這種方法可通過較少的計算,獲得等效故障源的有效估計。特別重要的是,由此算法還可派生出一種無須迭代的自適應(yīng)次優(yōu)算法,計算量很小,適合于實時性要求較高或電路規(guī)模較大的場合。
網(wǎng)絡(luò)參數(shù)求解模型的研究
劉彬
1993, 15(4): 396-403.
摘要:
本文對接載二端口網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)問題進(jìn)行了討論;建立了求解網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的數(shù)學(xué)模型;給出計算網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的軟件框圖,為實際應(yīng)用提供了方便。
求符號k階余因式的變形雙圖法
黃汝激
1993, 15(4): 404-409.
摘要:
引入了k階變形雙圖Gij和k階變形矩陣Yij的概念。應(yīng)用它們導(dǎo)出了圖行列式C(Y)和k階余因式Y(jié)(ij)的兩個新表達(dá)式,從而提出了求符號k階余因式Y(jié)(ij)的變形雙圖法。應(yīng)用它可直接且高效地求得Y(ij)的一個多層展開式(沒有專門的符號計算問題),而且不產(chǎn)生對消項,所以它優(yōu)于以前的方法。
研究簡報
微波成象中多采樣率信號預(yù)處理方法
李文德, 王振榮, 薛明華
1993, 15(4): 410-415.
摘要:
在實際微波成象系統(tǒng)中,其模糊成象窗口往往遠(yuǎn)大于目標(biāo)成象窗口。據(jù)此我們提出一種有效的成象前多采樣率預(yù)處理方法。它可以很好地壓縮原始頻域數(shù)據(jù),降低成象處理數(shù)據(jù)量和對計算機(jī)存儲空間的要求,提高數(shù)字成象處理效率。為驗證該方法的可行性,文中最后給出了對微波暗室采集數(shù)據(jù)的處理結(jié)果。
一種新的ASM設(shè)計法
莊南, 吳浩敏
1993, 15(4): 416-420.
摘要:
本文提出了用純二值結(jié)構(gòu)的三值觸發(fā)器作為基本存貯單元的ASM one-zero-hot設(shè)計法。
雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)fL和的測量提取噪聲電流譜測量法
羅濤, 戴逸松, 辛德勝
1993, 15(4): 421-424.
摘要:
晶體管低頻噪聲主要是1/f噪聲,其參數(shù)fL和的測出,不僅對低頻低噪聲設(shè)計,而且對于研究半導(dǎo)體噪聲機(jī)理以及應(yīng)用它來分析半導(dǎo)體內(nèi)部缺陷或表面清潔處理情況都有著重要意義。本文給出了雙極晶體管的1/f噪聲參數(shù)的測量方法、系統(tǒng)及實例,獲得了已有噪聲測量系統(tǒng)所不能給出的參數(shù)。
關(guān)于線性分組碼的不可檢錯誤概率
徐大專
1993, 15(4): 425-430.
摘要:
本文給出了檢錯好碼的定義,證明了GF(2)上的(n,k)線性分組碼為檢錯好碼的充要條件是其對偶碼也為檢錯好碼。文中還得到了關(guān)于檢錯好碼的一系列新的結(jié)果。對二元(n,k)線性分組碼,我們給出了不可檢錯誤概率新的下限。這些限只與n和k有關(guān),而與碼的重量結(jié)構(gòu)無關(guān)。
新型準(zhǔn)光學(xué)瓦級固態(tài)功率合成器
張富鑫, 張瑞兵, 林崇文, 張玲人, 于秀云
1993, 15(4): 431-434.
摘要:
本文介紹一種新型短焦距開放腔固態(tài)功率合成器的實驗結(jié)構(gòu)和實驗結(jié)果。由4只標(biāo)稱功率為155mW,160mW,160mW和165mW的Gunn二極管,采用串聯(lián)型接法進(jìn)行的合成實驗,在X波段獲得了開機(jī)輸出功率大于1W,穩(wěn)定輸出功率為850mW。
關(guān)于模式匹配法相對收斂性問題的研究
黃旻, 洪偉, 何立權(quán)
1993, 15(4): 435-440.
摘要:
本文論證了模式匹配法相對收斂性問題是由于沒有取本征模完備正交集中連續(xù)的前N項所致。為了解決這一問題,本文提出首先對本征模完備集進(jìn)行排序,然后進(jìn)行模式匹配。數(shù)值例子計算結(jié)果表明,這種先排序的模式匹配法不但很好地解決了相對收斂性問題?而且加快了收斂速度,在本征模個數(shù)相同的情況下,能有效地提高解的精度。將這種方法應(yīng)用于波導(dǎo)接頭不連續(xù)性問題的分析,結(jié)果表明,這種方法具有穩(wěn)定、精度高和收斂快等優(yōu)點。
用FDTD方法模擬穩(wěn)態(tài)電磁散射時開關(guān)函數(shù)的應(yīng)用
葛德彪, 郭利強(qiáng), 李明之
1993, 15(4): 441-444.
摘要:
在用時域有限差分(FDTD)方法模擬穩(wěn)態(tài)電磁散射時,為了減小穩(wěn)態(tài)建立過程中的沖激效應(yīng),縮短建立穩(wěn)態(tài)所需時間,本文引入了開關(guān)函數(shù),并給出幾種開關(guān)函數(shù)下FDTD的穩(wěn)態(tài)建立過程。
GaAs量子阱的能級分析
徐士杰, 羅晉生, 陳敏麒
1993, 15(4): 445-448.
摘要:
通過用Numerov方法求解Schrdinger方程計算了GsAs量子阱內(nèi)的能級和波函數(shù),詳細(xì)地討論了能級對各種參數(shù)包括阱寬、勢壘高度和外加電場的依賴關(guān)系。這些結(jié)果有助于GaAs/AlGaAs量子阱結(jié)構(gòu)的光電性質(zhì)研究和器件設(shè)計。