1983, 5(6): 396-400.
摘要:
本文介紹了進行高鉛玻璃通道電子倍增器(CEM)穩(wěn)定性試驗的方法與結(jié)果,得到了總累計計數(shù)約1011的壽命數(shù)據(jù)。用俄歇電子能譜儀分析了疲勞的CEM的活性表面結(jié)構(gòu)與成份,發(fā)現(xiàn)了壽命試驗過程中活性表面上碳的增加是CEM增益下降的主要原因,碳層的厚度約為50左右。為了提高CEM的耐烘烤性能,我們還研究了烘烤溫度對增益和分辨率的影響,以及烘烤溫度與還原溫度的某些關系,發(fā)現(xiàn)在保持一定電阻率的條件下,還原溫度越高,CEM的耐烘烤溫度也越高。